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景颐光电FILMTHICK系列膜厚仪：非接触式无损测量的技术突破

摘要

在半导体薄膜、液晶显示、光学镀膜等高端制造领域，薄膜厚度的精准测量直接影响产品性能与生产良率。广州景颐光电科技有限公司作为本土专注于光电测量技术的企业，推出的FILMTHICK系列膜厚仪，以非接触式、无损检测为核心优势，结合高精度算法与稳定光源，成为行业内备受关注的薄膜厚度测量解决方案。

公司简介

广州景颐光电科技有限公司深耕光电设备研发多年，致力于为客户提供可靠的光学测量工具。其产品覆盖膜厚测量、颜色检测等领域，广泛应用于半导体、生物医学、光学镀膜等高端行业，凭借技术创新与严格的质量控制，在市场中建立了良好的口碑。

膜厚仪技术解析：以FILMTHICK-C10与CHT-C200为例

景颐光电膜厚仪家族中的两款核心产品——FILMTHICK-C10与CHT-C200，均基于光干涉原理设计，集成进口卤钨灯光源（FILMTHICK-C10使用寿命超过10000小时，CHT-C200升级至50000小时），实现对样品的非接触式、无损、高精度测量。设备可同步获取反射率、颜色、膜厚等多参数数据，适用于半导体薄膜、液晶显示、生物医学等多种场景。

配套的OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件是其技术亮点之一：搭载FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，内置类型丰富的材料折射率数据库，并支持开放式扩展——用户可根据需求添加自定义材料的折射率数据，有效协助测试分析。测量过程中，软件能实时显示干涉波谱、FFT波谱与膜厚趋势，便于用户直观监控测量状态。

产品应用场景与技术优势

FILMTHICK系列膜厚仪的非接触式测量特性，使其无需对样品进行预处理，避免了传统接触式测量对薄膜表面的损伤，尤其适用于脆弱或珍贵样品的检测。例如在半导体行业，该设备可精准测量晶圆表面薄膜厚度，助力提升芯片生产的一致性；在生物医学领域，可用于检测生物薄膜的厚度分布，为研究提供可靠数据。

 

FAQ

1. 膜厚仪的测量精度如何保证？
答：景颐光电膜厚仪采用光干涉原理结合FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，内置类型丰富的材料折射率数据库，可实现对薄膜厚度的精准测量，误差控制在行业标准范围内（如氟塑料薄膜测试案例中，162μm厚度测量误差小于1%）。

2. 可以测量哪些类型的薄膜？
答：产品适用于半导体薄膜、液晶显示、光学镀膜、生物医学等多种薄膜层的厚度测量，支持非接触式检测，不会对样品造成损伤。

3. 软件是否支持自定义材料？
答：OPTICAFILMTEST软件提供开放式材料数据库，用户可根据需求添加自定义材料的折射率数据，满足不同场景的测试分析需求。

4. 非接触式测量对样品有什么要求？
答：非接触式测量无需样品预处理，适用于各种形状的薄膜样品，但需保证样品表面清洁，无明显划痕或污染，以免影响测量结果。

5. 售后服务包含哪些内容？
答：景颐光电提供设备安装调试、操作培训、软件升级等服务，质保期内免费维修，超出质保期的维修服务收取合理费用，确保客户使用无忧。