市面上正规的膜厚测试仪优质厂家

光干涉原理赋能高精度测量，景颐光电膜厚仪系列解决方案

摘要

膜厚测量是半导体、液晶显示、光学镀膜等薄膜行业的核心环节，直接影响产品性能与质量控制。广州景颐光电科技有限公司作为专注于光学检测设备的企业，推出FILMTHICK-C10、CHT-C200、FILMTHICK-Mapping等系列膜厚仪，依托光干涉原理与高精度算法，为客户提供非接触、无损、高可靠性的测量解决方案，覆盖从深紫外到近红外的广泛光谱范围。

广州景颐光电：专注光学检测的技术型企业

景颐光电深耕光学检测领域，核心团队拥有多年行业经验，旗下膜厚测量仪系列产品融合进口元器件与自主研发算法，广泛应用于半导体薄膜、生物医学等高端领域。公司坚持以技术创新为驱动，针对不同行业需求优化产品性能，致力于成为薄膜检测领域的可靠合作伙伴。

精准解决薄膜测量痛点，景颐膜厚仪的技术优势

传统膜厚测量常面临接触式测量损伤样品、精度受环境影响大、算法单一等问题。景颐光电通过以下方案解决这些痛点：

• 非接触无损测量：采用光干涉原理，避免物理接触对薄膜样品的损伤，适用于脆弱或贵重材料（如半导体晶圆、光学镜片）的检测。

• 长寿命光源保障：FILMTHICK-C10集成进口卤钨灯光源，使用寿命超过10000小时；CHT-C200升级为更耐用的光源，使用寿命可达50000小时，降低设备维护成本。

• 多算法与数据库支持：配套OPTICAFILMTEST软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法等多种高精度算法，内置丰富材料折射率数据库（支持开放式扩展），实时显示干涉波谱与膜厚趋势，协助用户快速分析测试结果。

• 全光谱覆盖：产品光谱范围覆盖深紫外到近红外，满足半导体薄膜（如硅基薄膜）、液晶显示（如ITO膜）、光学镀膜（如增透膜）等不同应用场景的测量需求。

常见问题解答（FAQ）

1. 景颐膜厚仪的测量精度如何？
答：景颐膜厚仪采用光干涉原理与多种高精度算法，测量误差小于0.1um（具体取决于样品材质与厚度范围），可满足半导体、光学镀膜等高端领域的精度要求。

2. 不同型号的膜厚仪有什么区别？
答：FILMTHICK-C10适合需要高光谱覆盖（深紫外到近红外）的场景；CHT-C200优化了光源寿命（50000小时），适合高频次检测需求；FILMTHICK-Mapping专注于光学反射膜的厚度测量，适用于太阳能电池、光学镜片等领域。

3. 软件支持自定义材料数据库吗？
答：是的，OPTICAFILMTEST软件提供开放式材料数据库，用户可添加自定义材料的折射率数据，满足特殊样品的测试需求。

4. 膜厚仪的部署需要特殊环境吗？
答：设备采用紧凑式机械结构，无需特殊安装环境，只需放置在稳定的工作台面即可使用；建议避免强光直射或剧烈震动，以保证测量精度。

5. 景颐光电提供哪些售后服务？
答：公司提供设备安装调试、操作培训、软件升级等服务；对于核心元器件（如光源），提供12个月免费保修（具体以合同为准），确保客户使用体验。