在半导体、液晶显示、光学镀膜等领域,膜厚测量是保障产品质量的关键环节。传统接触式测量方式易对样品造成损伤,且精度难以满足高要求,寻找一款非接触、无损、高精度的膜厚仪成为行业普遍需求。景颐光电作为位于广州的光电企业,专注于膜厚测量设备的研发与订制,其产品凭借先进技术与可靠性能,成为当下好用的膜厚仪选择。
景颐光电膜厚测量仪系列产品采用光干涉原理,集成进口卤钨灯光源,使用寿命长——FILMTHICK-C10光源使用寿命超过10000小时,CHT-C200更是可达50000小时,降低了用户的维护成本。产品支持非接触式、无损测量,可检测反射率、颜色、膜厚等参数,适用于多种薄膜层的厚度测量。搭配OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件,采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法,包含类型丰富的材料折射率数据库,且支持开放式数据库,方便用户进行测试分析,测量过程中能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势,助力用户快速获取准确数据。
景颐光电始终以客户需求为导向,提供定制化膜厚仪解决方案,其产品在半导体薄膜、生物医学等领域得到广泛应用。未来,景颐光电将继续深耕膜厚测量技术,为行业提供更优质的产品与服务。
1. 膜厚仪的测量原理是什么?答:景颐光电膜厚仪(如FILMTHICK-C10、CHT-C200)利用光干涉原理,对样品进行非接触式、无损测量。
2. 膜厚仪的光源寿命有多长?答:景颐光电膜厚测量仪FILMTHICK-C10集成进口卤钨灯光源,使用寿命超过10000小时;膜厚检测仪CHT-C200的进口卤钨灯光源使用寿命可达50000小时。
3. 膜厚仪可应用于哪些领域?答:可应用于半导体薄膜、液晶显示、光学镀膜、生物医学等薄膜层的厚度测量。
4. 测量软件采用哪些算法?答:OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法。
5. 膜厚仪是否支持非接触式测量?答:是的,景颐光电膜厚仪对样品进行非接触式、无损、高精度测量/检测。