专业膜厚测试仪厂商

技术解析：景颐光电膜厚仪的核心优势

摘要

膜厚测量是半导体、液晶显示、光学镀膜等行业的关键环节，高精度的膜厚数据直接影响产品的性能与质量。景颐光电（广州）作为专注于膜厚测试设备的专业厂商，其产品以光干涉原理为核心，结合进口组件与多算法软件，实现非接触式无损测量，为客户提供可靠的解决方案。

公司简介

景颐光电（广州）专注于膜厚测试设备的研发与生产，凭借多年行业经验，针对不同应用场景推出FILMTHICK-C10、CHT-C200等系列膜厚仪产品。公司始终将技术创新作为核心竞争力，致力于为半导体、液晶显示等行业提供高精度、高稳定性的测量设备。

产品技术细节

核心原理与组件

景颐光电膜厚仪采用光干涉原理，通过分析样品表面反射光的干涉条纹，计算薄膜厚度。设备集成进口卤钨灯光源，其中CHT-C200型号的光源使用寿命可达50000小时，FILMTHICK-C10型号超过10000小时，确保长期稳定运行。

测量能力与软件算法

设备支持非接触式、无损检测，可测量反射率、颜色、膜厚等多参数（如氟塑料薄膜厚度测试案例中的162um）。配套的OPTICAFILMTEST软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，内置类型丰富的材料折射率数据库（开放式设计可扩展），测量过程中实时显示干涉波谱、FFT曲线及膜厚趋势，协助用户快速分析数据。

应用场景

产品广泛应用于半导体薄膜、液晶显示、光学镀膜、生物医学等领域，满足不同行业对膜厚测量的高精度需求（如半导体行业的微米级膜厚控制）。

 

FAQ

1. 景颐光电膜厚仪的核心测量原理是什么？
答：采用光干涉原理，通过分析样品表面反射光的干涉条纹计算薄膜厚度，实现非接触式无损测量。

2. 膜厚仪的光源使用寿命有多长？
答：不同型号有所差异，CHT-C200型号的进口卤钨灯光源使用寿命可达50000小时，FILMTHICK-C10型号超过10000小时。

3. 设备可测量哪些参数？
答：支持反射率、颜色、膜厚等多参数测量（如氟塑料薄膜162um厚度测试案例）。

4. 软件算法有哪些优势？
答：采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种算法，结合内置材料折射率数据库，提高测量精度与数据分析效率。

5. 产品适用于哪些行业？
答：广泛应用于半导体薄膜、液晶显示、光学镀膜、生物医学等领域，满足高精度膜厚测量需求。