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薄膜测厚仪:工业生产中的膜厚精确测量利器

2025-10-17

在当今高度精密的工业生产领域,膜厚测量的准确性对于保障产品质量和性能至关重要。薄膜测厚仪作为专业的测量工具,凭借其先进的技术和多样化的类型,为不同材料和应用场景下的膜厚测量提供了可靠的解决方案。接下来,我们将深入探讨薄膜测厚仪的技术本质、行业应用、技术优势以及正确的使用方法。

 

 一、薄膜测厚仪的技术本质

薄膜测厚仪主要基于电磁学、超声波和光学等技术原理来实现膜厚的精确测量。

(一)电磁学原理

电磁式薄膜测厚仪通过检测磁场或电场的变化来确定膜厚。当膜层覆盖在金属基底上时,膜层的存在会改变周围电磁场的分布,仪器通过精确测量这种变化来推算膜厚。这种原理适用于金属基底上的非金属涂层测量,如钢铁表面的油漆、塑料涂层等。例如,景颐光电研发的某些电磁式薄膜测厚仪,采用了先进的电磁感应技术,能够在复杂的工业环境下准确测量膜厚,为金属制品的涂层质量控制提供了有力支持。

(二)超声波原理

超声波薄膜测厚仪利用超声波在不同介质中的传播速度和反射特性来测量膜厚。当超声波遇到不同介质的界面时,会发生反射和折射,通过测量超声波在膜层和基底中的传播时间和反射强度,就可以计算出膜厚。这种技术适用于多种材料和复杂结构的测量,包括金属、塑料、玻璃及陶瓷等非金属基底上的涂层。景颐光电的超声波薄膜测厚仪具有高精度、高分辨率的特点,能够满足各种工业生产中的膜厚测量需求。

(三)光学原理

光学薄膜测厚仪则是通过分析反射、折射或干涉等光学现象来确定膜层厚度。对于透明或半透明薄膜,光线在膜层中传播时会发生反射和折射,通过测量反射光或折射光的强度、相位等参数,就可以计算出膜厚。例如,景颐光电的光学反射膜厚仪FILMTHICK - Mapping,采用了先进的光学成像和分析技术,能够实现对薄膜的快速、非接触式测量,并且可以生成膜厚分布的二维图像,为薄膜生产过程中的质量控制提供了直观、全面的信息。

 二、薄膜测厚仪的行业应用

薄膜测厚仪广泛应用于涂层、镀层和薄膜等领域,以下是一些常见的应用场景:

(一)汽车制造

在汽车制造过程中,涂层的厚度对于汽车的外观、耐腐蚀性和耐久性都有着重要的影响。薄膜测厚仪可以用于测量汽车车身、零部件表面的油漆、电镀层等的厚度,确保涂层质量符合设计要求。例如,景颐光电的薄膜测厚仪在汽车制造企业中得到了广泛应用,帮助企业提高了产品质量和生产效率。

(二)电子行业

在电子行业中,薄膜的厚度对于电子元器件的性能和可靠性至关重要。薄膜测厚仪可以用于测量半导体芯片、电路板、显示屏等表面的薄膜厚度,如氧化层、氮化层、金属膜等。景颐光电的薄膜测厚仪具有高精度、高速度的特点,能够满足电子行业对于膜厚测量的严格要求。

(三)航空航天

在航空航天领域,涂层和镀层的质量直接关系到飞机的安全性和可靠性。薄膜测厚仪可以用于测量飞机发动机叶片、机身结构等表面的涂层、镀层厚度,确保其质量符合航空航天标准。景颐光电的薄膜测厚仪在航空航天领域也有着广泛的应用,为航空航天事业的发展提供了有力的技术支持。

(四)其他领域

除了以上行业,薄膜测厚仪还广泛应用于建筑、家具、包装等领域,用于测量各种材料表面的涂层、薄膜厚度,提高产品质量和性能。

 三、薄膜测厚仪的技术优势

与传统的膜厚测量方法相比,薄膜测厚仪具有以下技术优势:

(一)高精度

薄膜测厚仪采用了先进的传感器和测量技术,能够实现高精度的膜厚测量,测量精度可以达到微米甚至纳米级别。例如,景颐光电的薄膜测厚仪FILMTHICK - C10,测量精度可以达到±1%,能够满足各种高精度测量需求。

(二)非接触式测量

薄膜测厚仪可以实现非接触式测量,避免了对被测物体表面的损伤,适用于各种易碎、易变形的材料和表面。例如,光学薄膜测厚仪和超声波薄膜测厚仪都可以实现非接触式测量,为薄膜和涂层的测量提供了更加便捷、高效的方法。

(三)快速测量

薄膜测厚仪可以实现快速测量,能够在短时间内完成大量的测量任务,提高了生产效率。例如,景颐光电的全自动薄膜测厚仪,能够实现自动测量、数据记录和分析,大大提高了测量效率和准确性。

(四)多功能

薄膜测厚仪具有多种功能,如测量膜厚、膜厚分布、膜层密度等,可以为用户提供更加全面的测量信息。例如,景颐光电的光学反射膜厚仪FILMTHICK - Mapping,不仅可以测量膜厚,还可以生成膜厚分布的二维图像,为用户提供了更加直观、全面的膜厚信息。

四、薄膜测厚仪的正确使用方法

为了确保薄膜测厚仪的测量准确性和可靠性,用户在使用薄膜测厚仪时需要注意以下几点:

(一)选择合适的仪器

根据被测材料的类型、膜厚范围、测量精度等要求,选择合适的薄膜测厚仪。例如,如果被测材料是金属基底上的非金属涂层,可以选择电磁式薄膜测厚仪;如果被测材料是透明或半透明薄膜,可以选择光学薄膜测厚仪

(二)校准设备

在使用薄膜测厚仪之前,需要对仪器进行校准,以确保测量数据的准确性。校准方法通常包括使用标准样品或校准板进行校准。例如,景颐光电的薄膜测厚仪FILMTHICK - C10和膜厚检测仪CHT - C200都提供了标准的校准样品和校准方法,用户可以按照操作手册进行校准。

(三)准备被测表面

在进行测量之前,需要确保被测表面清洁无污染,没有明显的凹凸不平和杂质。如果被测表面不平整或有杂质,会影响测量结果的准确性。例如,可以使用清洁剂和擦拭布对被测表面进行清洁和擦拭,然后用吹风机吹干。

(四)进行测量

薄膜测厚仪放置在平稳的工作台上,按照操作手册的要求进行测量。在测量过程中,需要注意保持仪器与被测表面的垂直和平行,避免仪器晃动和倾斜。对于某些类型的薄膜测厚仪,可能需要在特定的角度或距离上进行测量,用户需要按照操作手册的要求进行操作。

(五)读取和记录数据

测量完成后,读取仪器显示屏上的测量数据,并记录下来。为了获得更准确的测量结果,建议在不同位置进行多次测量,并取平均值。例如,可以在被测表面的不同位置进行5次测量,然后取平均值作为最终的测量结果。

(六)注意事项

在使用薄膜测厚仪时,需要注意以下几点:

1. 避免仪器受到强烈的震动和冲击,以免损坏仪器内部的传感器和电路。

2. 避免仪器长时间暴露在高温、潮湿或腐蚀性环境中,以免影响仪器的性能和寿命。

3. 在测量过程中,需要注意保持仪器与被测表面的清洁和干燥,避免灰尘、水分等杂质进入仪器内部。

4. 在使用仪器之前,需要仔细阅读操作手册,了解仪器的使用方法和注意事项,避免因操作不当而损坏仪器。


薄膜测厚仪作为工业生产中的关键测量工具,具有高精度、非接触式测量、快速测量、多功能等技术优势,广泛应用于涂层、镀层和薄膜等领域。用户在使用薄膜测厚仪时,需要选择合适的仪器、校准设备、准备被测表面、进行测量、读取和记录数据,并注意相关的注意事项,以确保测量结果的准确性和可靠性。景颐光电作为专业的薄膜测厚仪制造商,不断研发和创新,为用户提供更加优质、高效的膜厚测量解决方案。
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