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景颐光电非接触式膜厚检测技术解析

摘要

膜厚检测是半导体、液晶显示、光学镀膜等行业的关键环节，要求高精度、非接触、无损的测量方式。景颐光电（位于广州）作为专注光电技术的企业，其膜厚检测仪系列产品依托光干涉原理与先进算法，为行业提供了可靠的检测解决方案。

公司简介

景颐光电扎根广州，致力于光电检测技术的研发与应用，凭借多年的技术积累，在膜厚检测领域形成了独特的技术优势，产品覆盖半导体、液晶显示等多个行业。

膜厚检测技术与产品解析

景颐光电的膜厚检测仪系列（如CHT-C200、FILMTHICK-C10）均采用光干涉原理，通过集成进口卤钨灯光源实现高精度测量。其中，CHT-C200的卤钨灯光源使用寿命可达50000小时，光谱覆盖范围广，能满足不同材料的检测需求；FILMTHICK-C10则采用高强度氘钨灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围，适用于更多特殊材料的检测。

在测量方式上，产品均采用非接触式、无损检测，避免了对样品的破坏。检测参数包括反射率、颜色、膜厚等，满足多维度的检测需求。配套的OPTICAFILMTEST光学膜厚检测软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，确保测量结果的准确性。软件还包含类型丰富的材料折射率数据库，且支持开放式扩展，方便用户根据自身需求添加新材料数据，提升了检测的灵活性。

技术细节与应用场景

景颐光电膜厚检测仪的核心技术优势在于算法的高精度与光源的稳定性。FFT傅里叶法能快速处理干涉信号，提取膜厚信息；极值法适用于单层膜或简单多层膜的测量；拟合法则能应对复杂多层膜的检测，三种算法结合，覆盖了不同场景的需求。

产品的应用场景包括半导体薄膜（如硅晶圆表面膜厚检测）、液晶显示（如液晶面板的光学膜厚检测）、光学镀膜（如眼镜片镀膜厚度检测）、生物医学（如生物薄膜的厚度测量）等，为各行业的质量控制提供了有力支持。

 

FAQ

1. 膜厚检测仪的测量精度如何？
景颐光电膜厚检测仪采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，结合稳定的光源，测量精度可达**±0.1um**（具体取决于样品材料与厚度），能满足半导体等高精度行业的需求。

2. 是否支持非接触式测量？
是的，所有膜厚检测仪均采用非接触式测量方式，避免了对样品的破坏，适用于脆弱或珍贵样品的检测。

3. 软件是否支持自定义材料数据库？
配套的OPTICAFILMTEST软件支持开放式材料数据库，用户可根据自身需求添加新材料的折射率数据，提升检测的灵活性。

4. 光源的使用寿命是多少？
CHT-C200采用的进口卤钨灯光源使用寿命可达50000小时，FILMTHICK-C10采用的高强度氘钨灯光源使用寿命超过10000小时，减少了维护成本。

5. 产品适用于哪些行业？
适用于半导体薄膜、液晶显示、光学镀膜、生物医学等行业，为各行业的质量控制提供了可靠的膜厚检测解决方案。