

光谱测量分析
光谱反射率检测
光谱透光率测量
光谱荧光检测
全光谱检测技术,波长范围:200–850 nm 或 400–1100 nm
高速控制技术,积分时间:1 ms – 65 s
配备 2048 像素 CCD 探测器
便携设计,适用于户外使用
透射 / 反射检测
LED 分选
颜色测量
吸光度测量
工业过程监控
| 参数项 | 规格 |
|---|---|
| 探测器类型 | 线阵 CCD 探测器 |
| 探测器范围 | 200–850 nm;400–1100 nm |
| 信噪比 | 350:1 |
| 线性度 | 99.8% |
| 光学分辨率 | 取决于光栅和狭缝,最小可达 0.3 nm |
| 光线设计 | 非对称交叉式 |
| 杂散光 | 600 nm 处:<0.1% |
| 暗噪声 | 50 RMS counts |
| 入射狭缝 | 5, 10, 25, 50, 100 或 200 μm(可选) |
| 积分时间 | 1 毫秒 至 65 秒 |
| 线性度 | >99.8% |
| A/D 转换分辨率 | 16 位 |
| 光纤连接器 | SMA 905 光纤接口 |
| 外型尺寸 | 80 × 40 × 115 mm |
| 质量 | 500 克 |
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