产品概述
景颐光电自主研发的大靶面光斑质量分析仪可实现激光光斑检测及测试应用，对激光光束的大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析，为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案，并支持多应用开发。可根据客户不同需求进行模块化定制。适用半导体激光器，固体激光器，光纤激光器，超快激光器，激光测距等领域。
性能特点
高性价比，可代替进口激光光束质量分析仪，实现激光光斑检测及测试应用
本产品像素大小9.76x9.76um
光斑检测直径范围29um~200mm
标配衰减片，方便操作，可选更高功率衰减配置，功率范围可达1000W
支持手动和自动实时曝光及增益调节
主要测量功能
光斑直径（长轴/短轴，X/Y方向）
椭圆度，高斯拟合度
能量分布，光束位置，发散角
Pass/Fail设置
高速度、高分辨率显示2D和3D伪彩色光束轮廓
实时进行光斑的伪彩色2D显示、长短轴的高斯曲线显示
支持控制相机的曝光、增益和分辨率
支持参数的统计分析
记录和导出参数，或者生成报告
读取光斑图片并测量参数
多选择的图片保存功能
支持USB3.0接口
图形化界面，易上手，可自由设置
可定制拓展功能
典型应用
激光器光斑测量
激光光斑模式缺陷检测
准直器光斑检测
光纤对准耦合分析
光学器件质量检查
外光路准直等
产品参数
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型号 |
JYCCD-UV1000 |
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芯片尺寸 |
1“ |
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波长范围 |
200-1100nm |
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通光孔径 |
12.49*9.99mm |
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单像素尺寸 |
9.76x9.76um |
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外触发 |
支持 |
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分辨率 |
1280x1024 |
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探测范围 |
29um~200mm |
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最大采集帧频率 |
30 |
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最小可探测的发散角 |
<0.1mrad |
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曝光时间 |
17um~15s |
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芯片类型 |
CMOS |
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位深（bit） |
12bit |
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衰减片 |
标配4片衰减片 |
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供电接口 |
USB |
*本技术规格最终解释权归生产厂家所有
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